Celebrada con éxito Metromeet 2011

Metromeet celebró con éxito su 7ª edición, marcada por la gran participación y la alta calidad de las presentaciones. Durante los dos días de la conferencia, la única en Europa dedicada a la metrología industrial dimensional, más de 100 profesionales se dieron cita en el Palacio Euskalduna de Bilbao, para presenciar los dos tutoriales, tres keynotes y 20 presentaciones del programa.

Metromeet abrió sus puertas con dos tutoriales simultáneos de dos horas de duración; el primero de la mano de Antonio Ventura-Traveset, Director General de Datapixel, titulado Integrando la Metrología en la Empresa Digital: cómo mejorar las formas de compartir información y cooperar; y el segundo, a cargo de Wolfgang Osten, Profesor de la Universidad de Stuttgart, que planteó los diferentes enfoques para superar los límites entre la micrometrología y la nanometrología óptica.

John Lawall, del IST, impartió el keynote inaugural de la conferencia, en el que planteó la posibilidad del uso del interferómetro Fabry-Perot para realizar mediciones, y explicó que esta técnica permite la absoluta medición de la longitud, además de un alto desplazamiento, comprobaciones de la propia consistencia y otras muchas ventajas. El segundo keynote de la conferencia, impartido por Martin Wäny, fundador y presidente de AWAIBA,  abrió la jornada del viernes, y se centró en el presente y futuro de los sensores de imagen, desde la perspectiva de cómo la tecnología de sensores megapíxel puede ayudar a la metrología óptica.

La metrología óptica cobró especial relevancia en el tercer y último keynote de la conferencia, a cargo de Richard Leach, Director Científico de Investigación en la División de Ingeniería de Medición en el Laboratorio acional de Física (PL) en Reino Unido, que reabrió el debate de la metrología tradicional frente a la medición óptica en su keynote Contacto o sin contacto, esa es la cuestión. Planteó los problemas relacionados con ambos métodos, y sugirió una fórmula con la que quizás se puedan corregir algunos de los errores sistemáticos que son comunes a los instrumentos de medición de superficies.

Durante los seis tracks temáticos que agrupaban las 20 presentaciones de la conferencia, los asistentes descubrieron las últimas tendencias y novedades en el ámbito de la metrología industrial, del software metrológico, de la metrología óptica, de la nano y micrometrología y de la calibración y verificación, con ponentes como Daniel Mansfield (Taylor Hobson Ltd.), Óscar Lázaro (Asociación Innovalia), Gerd Schwaderer (Geomagic) o Simone Carmignato  (Universitá de Padova), entre otros.

* Para más información: www.metromeet.org