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Clausurada la V edición de Metromeet


31/03/2009

El certamen se ha consolidado como una de las Conferencias sobre Metrología Industrial Dimensional más importante de Europa y se confirma como foro activo de intercambio de conocimiento y experiencia entre profesionales del sector.

Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebró su quinta edición los días 26 y 27 de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao. Metromeet ha contado este año con ponentes venidos de Asia, EEUU y Europa, que impartieron los dos tutoriales, cuatro keynotes y 25 presentaciones que componen la Conferencia. La principal novedad de este año, el track Deporte y Metrología, reunió a un gran número de asistentes, deseosos de conocer los secretos de la Fórmula 1.

Ponencias destacadas fueron las del Dr. Óscar Lázaro, sobre la nueva generación de máquinas de medición por coordenadas: la nanometrología. Por su parte, Joseph Forest y el Dr. Markis Bartscher formaron parte del track dedicado a los últimos desarrollos de software metrológico.

* Para más información: www.metromeet.org

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