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Jornada sobre Metrología 3D in situ


08/04/2014

IK4-TEKIKER, en colaboración con LEICA y ASORCAD Engineering, organiza una jornada técnica donde se abordará la problemática de la metrología 3D in-situ.

Bien sea por sus requerimientos técnicos o por su tamaño, el componente a medir no siempre puede ser transportado al laboratorio de medida. En ese caso, la solución pasa por transportar el equipo de medida a casa del cliente y realizar la medición in-situ.

Jornadas sobre Metrología 3D in situ.

Los asistentes podrán interactuar con los técnicos, hardware y software para conocer más de cerca los equipos y las posibilidades de medición que se ofrecen, así como la opinión de los expertos para resolver problemáticas de medidas concretas.

La jornada, gratuita, tendrá lugar la mañana el próximo 10 de abril en las instalaciones de IK4-TEKIKER en Eibar.

*Para más información: www.tekniker.es

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