La nanometrología será protagonista en Metromeet 2013

En esta novena edición, Metromeet dedicará especial atención a los avances en nanometrología. Clivia Sotomayor, del Instituto Catalán de anotecnología, impartirá el keynote que abrirá la segunda jornada, acerca de los últimos avances en medición por debajo de los 20 nanómetros. A continuación, tendrá lugar un track dedicado íntegramente a la micro y nanometrología, donde Hans Danzebrink, del PTB, se centrará en los sensores, estándares y calibración en el área de la nanometrología por coordenadas, y Bartosz owakowski, del IST, abordará los últimos progresos en nanoindentación.

Metromeet también dedicará gran parte de su programa a las soluciones metrológicas y a la aplicación de la metrología en el ámbito industrial. Reik Krapping, de Fraunhoffer IPT, explicará cómo funciona la adquisición y el análisis de datos en los procesos de fresado; Daniel Pyzak, de CATIA-EMEA, dará su punto de vista acerca de la optimización de los procesos de fabricación mediante el modelado en 3D, y Ray Karadayi, de Applied Automation Technologies, centrará su ponencia en los procesos metrológicos de centros de mecanizados multieje.

Las inscripciones para la conferencia, organizada por la Asociación Innovalia desde su primera edición, ya están disponibles en la web oficial: www.metromeet.org