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Metromeet 2008 ya tiene programa de ponencias


11/12/2007

La Conferencia ofrecerá una visión completa de las nuevas soluciones para la industria metrológica.

Los retos de las empresas son cada vez mayores, dada la complejidad de las nuevas infraestructuras tecnológicas y de los modelos de negocio basados en la calidad y la colaboración. Las herramientas tradicionales de gestión no son suficiente spara hacer frente a los nuevos desafíos.

Aquí entra en juego la propuesta de Metromeet 2008, que tendrá lugar los días 21 y 22 de febrero del próximo año y ofrecerá su solución ante este complejo panorama: sistemas de calibración para la medición del metal, nuevo enfoque en tareas de coordinación geométrica, sistemas de medición óptica, la robótica para la metrología, la microtecnología, etc.

La Conferencia contará una vez más, con la presencia de los profesionales más destacados en el área de la metrología, como Ted Doiron (ZY), Kostadin Doytchinov, R.Schmitt o Kam Lau, quienes hablarán de temas como los nuevos sistemas de desarrollo óptico y digital, entre otros.

* Para más información: www.metromeet.org

 

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