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Costes y productividad, protagonistas en Metromeet 2009


04/03/2009

La Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, que se celebrará en Bilbao los días 26 y 27 de marzo, se centrará este año en el estudio de las técnicas para reducir costes e incrementar la productividad.

El programa de Metromeet 2009 (que este año contará con la participación de 20 ponentes de empresas y organismos relevantes del sector), se compone de dos tutoriales, 4 keynotes y 20 presentaciones, divididas en 7 tracks.

El primer keynote de la Conferencia correrá a cargo de Meyya Meyyappan, Jefe Científico de Tecnología de Exploración en el Centro de anotecnología de la asa, que hará un resumen acerca de los desarrollos nanotecnológicos relacionados con la metrología.

Toni Ventura-Traveset, de Innovalia Metrology, impartirá un tutorial titulado 3D Optical technologies for dimensional metrology: Which system do I need?, en el que se darán algunas claves para identificar los beneficios a la hora de seleccionar una tecnología, y los criterios a seguir para elegir un sistema de medición óptica en 3D.

Entre las principales novedades de la quinta edición de Metromeet, destaca el nuevo track Deporte y Metrología, que contará con presentaciones muy dinámicas e interesantes, como The metrology of the sport, a cargo del Dr. Setton Bennett de PL (Reino Unido), que explicará la importancia de la metrología en el deporte en relación con cuatro aspectos: tiempo, distancia, presión y masa. Cobra especial importancia la automoción, con William Leenstra, que hablará sobre su experiencia en el diseño de un coche solar, y Luigi Cocco que  acercará a los secretos de la Fórmula 1 a los asistentes de Metromeet.

*Para más informaciónwww.metromeet.org

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