Así fue Metromeet 2019

16/04/2019

Bilbao ha acogido, entre el 10 y el 12 de abril, la celebración de una nueva edición de la conferencia sobre metrología industrial, Metromeet.

16.04.2019 En esta ocasión, se celebraba la 15ª edición de Metromeet, que ha conseguido concentrar a los principales ejecutivos de empresas de proyección internacional como Innovalia, LMI Technologies, Autodesk, CIN Advanced Systems, Capvidia, Novo Nordisk, Zeiss, Faro o Renishaw además de las principales instituciones a nivel mundial como el PTB, la Universidad de Nottigham, la de Amberes, el CFAA o Tekniker.

Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, CIN Advanced system, Faro, Zeiss y LMI Technologies esta 15ª edición de Metromeet contaba con contenido innovador de gran interés y ha permitido descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0.

La inauguración de la conferencia, celebrada en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, corrió a cargo de Lorenzo Carli, metrólogo senior de Novo Nordisk de y Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia.

Seguidamente, Toni Ventura, CEO de Datapixel, presentó un tutorial carismático en el que apuntaba el camino hacia la fabricación con cero defectos gracias a la metrología. Venturá terminó su intervención con una reflexión: Metromeet permite que personas de distintos países, empresas y edades, miremos unidas hacia el futuro de la Metrología.

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La 15ª edición de Metromeet contó también con una interesante ponencia de Ray Admire, colaborador del NIST en Texas (Estados Unidos), sobre los estándares de fabricación QIF.

Por su parte, Ainhoa Etxabarri impartió el segundo día de Metromeet la ponencia Metrología en Mecanizado en la que, además de hablar de M3MH, un software de medición que permite la conexión directa con el CNC, presentó una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales.

El cierre de la conferencia fue una mesa redonda en la que participaron Toni Ventura, CEO de Datapixel, Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, Lorenzo Carli, chairman de la Conferencia, Ray Admire, presidente de la asociación DMSC y colaborador del NIST, y Alain Pfouga, gerente de la asociación Prostep IVIP.

En dicha mesa redonda se tocaron temas como los estándares de fabricación, la interoperabilidad y la gestión de datos en la fábrica del futuro.

El último día de conferencia los asistentes estuvieron en Bodegas Baigorri donde disfrutaron de un contenido innovador gracias a ponentes como Sara García, campeona de rally TT en 2016 y 2017 y participante en el Dakar 2019 Malle Moto.

También durante la última jornada de Metromeet, los asistentes pudieron ver aplicaciones de tecnología y nuevos desarrollos de la mano de ponentes de LMI Technologies y CIN Advanced Systems.

Metromeet ha servido a los participantes para sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias.

*Para más información: https://metromeet.org/